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在線膜厚檢測儀:多參數(shù)實時測量,賦能精密制造
2025-02-12

在精密制造領(lǐng)域,膜厚控制是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)的膜厚測量方法往往存在效率低、精度差、無法實時監(jiān)控等弊端,難以滿足現(xiàn)代化生產(chǎn)的需求。在線膜厚檢測儀的出現(xiàn),為這一難題提供了解決方案。它能夠依據(jù)各種不同應(yīng)用設(shè)置多個參數(shù),實現(xiàn)實時、精...

  • 2023-08-16

    晶圓缺陷檢測是半導(dǎo)體行業(yè)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié),它對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和提高生產(chǎn)效率具有重要作用。傳統(tǒng)的檢測方法往往需要大量的人力和時間,且存在一定的主觀性和局限性。然而,基于該檢測技術(shù)的出現(xiàn),為半導(dǎo)體行業(yè)帶來了新的機遇和挑戰(zhàn)。一、人工智能在晶圓缺陷檢測中的應(yīng)用:1.數(shù)據(jù)采集與預(yù)處理:該檢測需要大量的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練樣本。通過高分辨率的圖像采集設(shè)備獲取晶圓表面的圖像數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,去除噪聲和冗余信息,為后續(xù)的缺陷檢測提供準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ);2.特征提取與選擇:通過使用深度學(xué)習(xí)算法...

  • 2023-08-10

    柔性薄膜電阻是一種具有高柔韌性和可塑性的新型電阻材料,廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、傳感器、柔性顯示等領(lǐng)域。為了評估柔性薄膜電阻的性能和質(zhì)量,檢測其電阻值的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性成為一項重要的任務(wù)。近年來,微流體技術(shù)作為一種精準(zhǔn)、高效的測試方法被引入柔性薄膜電阻測試中,其應(yīng)用和優(yōu)勢值得深入探討。本文將對微流體技術(shù)在測試中的應(yīng)用與優(yōu)勢進(jìn)行分析。一、微流體技術(shù)在柔性薄膜電阻測試中的應(yīng)用:1.傳感器制備:微流體技術(shù)可以實現(xiàn)對柔性薄膜電阻的定點涂布和模式化制備,通過微細(xì)的流動控制,在柔性基底上形成高精...

  • 2023-08-04

    薄膜電阻廣泛應(yīng)用于電子行業(yè)的各個領(lǐng)域,如顯示屏、光伏電池等。為了確保薄膜電阻的質(zhì)量和性能,需要進(jìn)行準(zhǔn)確可靠的測試。傳統(tǒng)的儀器對操作人員的技術(shù)要求較高,并且測試速度較慢。而基于機器學(xué)習(xí)算法的智能化薄膜電阻測試儀的開發(fā)與應(yīng)用可以提高測試效率和準(zhǔn)確性,為薄膜電阻產(chǎn)業(yè)帶來更大的便利和發(fā)展機遇。一、智能化薄膜電阻測試儀的開發(fā):1.數(shù)據(jù)采集:儀器通過傳感器對薄膜電阻進(jìn)行實時數(shù)據(jù)采集。這些數(shù)據(jù)可以包括電阻值、溫度、濕度等信息。采集的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練模型的輸入,用于構(gòu)建機器學(xué)習(xí)算法。2.模型訓(xùn)練...

  • 2023-08-03

    激光測厚儀主要應(yīng)用于鋰電池正、負(fù)極涂布,鋰電池正、負(fù)極輥壓的厚度和面密度測量。對于傳統(tǒng)涂布線,技術(shù)人員建議采用離線式激光測厚儀通過抽檢的方式折中地解決邊緣監(jiān)控問題;而對于新上的涂布線,推薦使用該設(shè)備放置于放卷后、涂布前,測量基材的厚度和面密度;也可以放置在烘箱后、收卷前,測量烘干極片的厚度和面密度。激光測厚儀設(shè)備與傳統(tǒng)設(shè)備最大的不同在于其光斑很小,不僅在極片中間區(qū)域表現(xiàn)良好,還能準(zhǔn)確地監(jiān)控極片頭尾和左右的輪廓,避免削薄區(qū)和頭尾出現(xiàn)較大的面密度或厚度偏差而導(dǎo)致批量報廢。本產(chǎn)品主...

  • 2023-07-28

    微納米尺度探針在高精度薄膜電阻測試中發(fā)揮著重要的作用。這種方法可以提供更準(zhǔn)確和可靠的測量結(jié)果,為材料科學(xué)、電子器件制造等領(lǐng)域的研究和應(yīng)用提供有價值的數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的薄膜電阻測試方法通常使用宏觀尺寸的探針或接觸頭進(jìn)行測量,但這種方法存在一些局限性。例如,在微米甚至納米級別上進(jìn)行精確測量時,無法避免與被測樣品之間發(fā)生非破壞性接觸,并且可能會受到外界因素(如表面粗糙度)影響。因此,利用微納米尺度探針來進(jìn)行高精度薄膜電阻測試成為了一種新型解決方案。微納米尺度探針是由特殊材料制成并具有極細(xì)...

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